Article Dans Une Revue
Semiconductor Science and Technology
Année : 2018
Sukhdeep Dhillon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-02412985
Soumis le : lundi 16 décembre 2019-09:15:44
Dernière modification le : vendredi 19 avril 2024-16:18:54
Citer
K Ikamas, A Lisauskas, S. Massabeau, M Bauer, M Burakevič, et al.. Sub-picosecond pulsed THz FET detector characterization in plasmonic detection regime based on autocorrelation technique. Semiconductor Science and Technology, 2018, 33 (12), pp.124013. ⟨10.1088/1361-6641/aae905⟩. ⟨hal-02412985⟩
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