Sub-picosecond pulsed THz FET detector characterization in plasmonic detection regime based on autocorrelation technique - Université Paris Cité Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Semiconductor Science and Technology Année : 2018

Sub-picosecond pulsed THz FET detector characterization in plasmonic detection regime based on autocorrelation technique

K Ikamas
  • Fonction : Auteur
A Lisauskas
  • Fonction : Auteur
M Bauer
  • Fonction : Auteur
M Burakevič
  • Fonction : Auteur
J Vyšniauskas
  • Fonction : Auteur
D Čibiraitė
  • Fonction : Auteur
V Krozer
  • Fonction : Auteur
A Rämer
  • Fonction : Auteur
S Shevchenko
  • Fonction : Auteur
W Heinrich
  • Fonction : Auteur
J. Tignon
Sukhdeep Dhillon
J. Mangeney
H Roskos
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-02412985 , version 1 (16-12-2019)

Identifiants

Citer

K Ikamas, A Lisauskas, S. Massabeau, M Bauer, M Burakevič, et al.. Sub-picosecond pulsed THz FET detector characterization in plasmonic detection regime based on autocorrelation technique. Semiconductor Science and Technology, 2018, 33 (12), pp.124013. ⟨10.1088/1361-6641/aae905⟩. ⟨hal-02412985⟩
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